金屬探測建功!分科測驗考生戴「AI眼鏡」首度被抓包 最重0分計算

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分科測驗考生戴「AI眼鏡」被抓包,最重0分計算。(示意圖;Pixabay)
分科測驗考生戴「AI眼鏡」被抓包,最重0分計算。(示意圖;Pixabay)
文|李昶毅

115學年度分科測驗因巴威颱風延期,今(13日)起連兩日登場。這次首次啟用電子及金屬探測,首日就成功抓到1名考生戴AI眼鏡,大考中心也提醒,考生千萬別以身試法。

今年大學申請入學管道,1名重考生在台大二階筆試偷偷使用AI眼鏡,最後因一直低頭,加上眼鏡摸起來「很燙」被抓現行,最後遭判零分,成為全台首例。

為防止電子舞弊情事,大考中心今年啟用電子及金屬探測,首日第一個登場科目為物理科,金屬探測器馬上建功,順利抓到1名考生配戴AI眼鏡,具體違規狀況尚待釐清,將提報考委會議處,至於這名考生,該科恐以零分計算。

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